1. Scanning force microscopy
پدیدآورنده: / Dror Sarid
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم (دانشگاه تهران) (تهران)
موضوع: Scanning force microscopy,Surfaces (Physics)
رده :
QC
173
.
4
.
S94
S27
1991
2. Surface analysis with STM and AFM: experimental and theoretical aspects of image analysis
پدیدآورنده: Magonov, Sergei N.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Surfaces )Physics(-- Optical properties,، Scanning tunneling microscopy,، Atomic force microscopy,، Image analysis
رده :
QC
173
.
4
.
S95
.
M3
1996
